В чем основное различие изучаемых образцов, исследуемых сканирующим и атомно-силовым микроскопом?
|
Возможность изучать образцы-диэлектрики; |
|
Использование импульсного лазера; |
|
Сверхпроводимость при низких температурах; |
|
Ограничение эксплуатации у экватора. |
Кто изобрел электронный микроскоп?
|
Левенгук; |
|
Рорер; |
|
Руска; |
|
Бининг. |
От чего зависит емкость конденсатора?
|
От размера контактов; |
|
От площади поверхности пластин и расстояния между ними; |
|
От места установки в цепи и напряжения в сети; |
|
От вида используемого аккумулятора. |
Какой единицей измерения можно описать размер атома?
|
Фарад; |
|
Бар; |
|
Ангстрем; |
|
Кулон. |
Что из этого является наноматериалом на основе углерода?
|
Нанотрубки; |
|
Нанокубики; |
|
Наношарики; |
|
Наноквадраты. |